| TE2830X CT.CS电容器动态测试系统 |
| TE2830X CT.CS Capacitor Dynamic Tist System |
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测试频率 |
30kHz-100kHz |
测试范围 |
CS：0.1μF-10μF，最大电流 20Ap-p
CT：1000pF-0.1μF，最大电压2000Vp-p |
测试功能 |
CT、CS容量、损耗测试；频率测试；电流、电压测试；电容器表面温升检测；电压VB+及电流IB+检测；总的测试时间内的测试次数，并可输出各种参数的分析图表。 |
TEST FREQUENCY |
30kHz-100kHz |
MEASURING RANGE |
CS：0.1μF-10μF，max Current 20Ap-p
CT：1000pF-0.1μF，max Voltage 2000Vp-p |
TEST FRNCTION |
CT.CS Capacity test,dissipation(TAN)test,Frequency Test,Current test,Voltage test,Face Temperature of Capacitor test,Voltage VB+ and Curent IB+ test,Test Count Within Total test time,Output Analyse Graphs for Various Parameter. |
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